表面粗糙度可以通过使用粗糙度测量仪器来进行测量。
常用的粗糙度测量仪器主要分为接触式测量仪和非接触式测量仪。这两种方法都可以提供表面粗糙度的数值和图像表示。
一、接触式测量粗糙度：
接触式测量仪测量粗糙度是通过机械探针与被测物体表面接触来进行测量的。当机械探针接触到被测表面时，测量系统会记录下机械探针的运动轨迹和力的变化。通过测量探针在表面上的运动和受到的力的变化，可以计算出表面的形貌参数。测量原理中的关键是探针与被测表面的接触和运动，因此需要保证探针的稳定性和精确性。
优点：设备成本相对较低。
缺点：探针维修和更换的成本高；测量速率较慢、精度较低；对测量物体有损伤；对被测材料有要求，软质材料、尖锐产品难以测量。
二、非接触式测量粗糙度：
非接触式测量仪测量粗糙度一般采用光学的原理。比如：白光干涉仪利用光干涉的原理，获取物体表面信息，是一种精密测量仪器，能对物体的表面粗糙度进行高精度测量。白光干涉仪的测量精度很高，精度可以达到亚纳米级别。以大量程、高精度的高速压电陶瓷单元驱动的白光干涉仪精度高达0.03nm，扫描速度高达400μm/s。它应用的行业很广泛，可应用于新能源、半导体、精密加工、精密光学、航空航天、3C产品、材料、液晶等领域。
优点：测量速率较快、精度较高；对测量物体无损伤；对材料无要求，软质材料和尖锐产品也可测量。
缺点：设备成本相对较高。
综上所述，表面粗糙度的测量需要根据实际测量情况和需求来选择合适的测量方法。
表面粗糙度用双管显微镜测量。可用作Ry与Rz参数评定，测量范围0.5~50。
也可以利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高 （可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。
应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为 0.025～0.8微米的表面粗糙度。
另外，比较法测量简便，使用于车间现场测量，常用于中等或较粗糙表面的测量。方法是将被测量表面与标有一定数值的粗糙度样板比较来确定被测表面粗糙度数值的方法。
比较时可以采用的方法: Ra > 1.6μm 时用目测，Ra1.6~Ra0.4μm 时用放大镜，Ra < 0.4μm
时用比较显微镜。
扩展资料
表面粗糙度对零件使用情况有很大影响。一般说来，表面粗糙度数值小，会提高配合质量，减少磨损，延长零件使用寿命，但零件的加工费用会增加。
因此，要正确、合理地选用表面粗糙度数值。 在设计零件时，表面粗糙度数值的选择，是根据零件在机器中的作用决定的。
总的原则是在保证满足技术要求的前提下，选用较大的表面粗糙度数值。具体选择时，可以参考下述原则：
（1）工作表面比非工作表面的粗糙度数值小。
（2）摩擦表面比不摩擦表面的粗糙度数值小。摩擦表面的摩擦速度越高，所受的单位压力越大，则应越高；滚动磨擦表面比滑动磨擦表面要求粗糙度数值小。
（3）对间隙配合，配合间隙越小，粗糙度数值应越小；对过盈配合，为保证连接强度的牢固可靠，载荷越大，要求粗糙度数值越小。
参考资料来源：百度百科-表面粗糙度
测量纳米级粗糙度的时候可以用现代先进光学仪器-白光干涉仪。
白光干涉仪又叫做非接触式光学3D表面轮廓仪，是以白光干涉扫描技术为基础研制而成用于样品表面微观形貌检测的精密仪器。利用光波干涉原理 将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度，可以轻松测量表面粗糙度。
白光测量的粗糙度范围从0.1nm到10μm别。面和线粗糙度测量，可确保0.1nm的测量可靠性，不限制材质和形状。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造等领域，可测从纳米到微米级别工件的粗糙度。
