接地电阻测试方法如下：
1、两线法
条件：必须有已知接地良好的地，如PEN等，所测量的结果是被测地和已知地的电阻和。假如已知地远小于被测地的电阻，测量结果可以作为被测地的结果。
适用于：楼群稠密或水泥地等密封无法打地桩的地区。
接线：E+ES接到被测地，H+S接到已知地。
2、三线法
条件：必须有两个接地棒：一个辅助地和一个探测电极。各个接地电极间的间隔不小于20米。原理是在辅助地和被测地之间加上电流，测量被测地和探测电极间的电压降，测量结果包括测量电缆本身的电阻。
适用于：地基接地，建筑工地接地和防雷接地。
接线：S接探测电极，H接辅助地，E和ES连接后接被测地。
3、四线法
基本上同三线法，在低接地电阻测量和消除测量电缆电阻对测量结果的影响时替换三线法。测量时E和ES必须单独直接连接到被测地。该方法正确度最高的。
4、单钳测量
测量多点接地中的每个接地点的接地电阻，而且不能断开接地连接防止发生危险。
适用于：多点接地，不能断开连接，测量每个接地点的电阻。
接线：用电流钳监测被测接地点上的电流。
5、双钳法
条件：多点接地，不打辅助地桩，测量单个接地。
接线：使用厂商指定的电流钳接到相应的插口上，将两钳卡在接地导体上，两钳间的间隔要大于0.25米。
两点、三点、四点接地电阻测试有什么区别？
地面测试以与土壤接触的点数命名。常用术语指死土、电位降和温纳法测试。
死地（两点）：在死地方法中，仅在两点进行接触：被测接地电极和方便的参考地，例如水管系统或金属栅栏柱。
电位降（三点）：在电位降法中，接触被测接地电极，而电流和电位探针在测试过程中以预定距离接触土壤。
温纳法（四点法）：温纳法不涉及接地电极，而是可以使用四探针设置和公认的标准程序测量土壤的独立电气特性。该测试也称为土壤电阻率。
2. 地面系统应多久测试一次？
天气条件和季节对地面系统的影响最大。大多数标准建议以 5、7 或 9 个月的奇数间隔进行测试。使用奇数间隔可确保揭示最坏情况的季节。
3. 可接受的接地电阻读数是多少？
接地电阻测试的目标是实现尽可能低的接地电阻值。国家电气规范中使用最广泛的接地规范，其中规定住宅接地电阻为 25 欧姆或更小。
某些规格可能需要较低的电阻，例如工程师、客户或设备制造商指定的规格。NFPA 和 IEEE 建议接地电阻值为 5 欧姆或更小。计算机、发电站和过程控制设备可能只需要 1 或 2 欧姆。
4. 下雨对接地电阻测试有什么影响？
降雨增加的水分会溶解土壤中的盐分并增加电导率——从而降低电阻。如果在测试前下了大雨并且电极几乎不符合规格，则很可能在土壤干燥时它不会通过。
5. 我应该将测试探针驱动到多深？
一个常见的误解是，将测试探头驱动得更深会改善接地电阻读数。测试探头只需与土壤进行最少量的接触，这可以通过观察测试仪显示获得。
当使用具有高电阻公差的接地电阻组时，甚至可能不需要穿透表面来满足阈值公差。只需将探头平放并浇灌该区域通常就足够了。
6. 用水稀释接地测试探针以改善接触是否会影响我的测试结果？
给接地电阻测试探头浇水是一种改善接触的专门方法，类似于在将电极连接到电路之前打磨电极。只要电极在浇水时有足够的间距，这种方法应该不会影响您的最终读数。
7. 是否可以对混凝土或碎石进行接地电阻测试？
由于混凝土的导电性能相当好，您很可能只需要将探头平放在表面上并弄湿该区域即可建立接触。另一方面，由于焦油含量，碎石的导电性不如混凝土，但有可能实现足够的接触。
如果您在使用测试仪随附的探头获取接地电阻读数时遇到问题，请尝试使用由柔性金属化导电垫（例如一块金属板）制成的接地垫。
8. 如果没有足够的空间用完我的测试线，我该怎么办？
如果没有足够的空间来拉伸您的潜在测试下降的引线，您将不得不尝试另一种方法，请参考 IEEE 标准第 81 号中描述的测试程序。在这种情况下最常用的程序是 Star-增量法。
星三角法是两点法的一种改编。测试探头围绕被测地面布置在一个相当靠近的三角形中，并在不同的两点之间进行一系列测量（例如，探头到地面和探头到探头）。然后通过一系列专门设计的方程式运行这些值，以获得接地电阻读数。
9. 我可以在沙质或岩石土壤中测试接地棒吗？
可以测试在沙质或岩石土壤中驱动的接地棒，但由于促进导电的水分会迅速流失，因此更难测试。由于每个元素之间的大空间，岩石土壤的整体一致性差，表面接触电极减少。在许多情况下，可能需要更长更强的探头才能与土壤良好接触。
10. 是否可以使用绝缘表（兆欧表）或万用表进行接地电阻测试？
不可以。绝缘测试仪专为测量高电阻而设计，能够产生高电压。接地测试仪设计用于测量低电阻，并且为了操作员的安全仅限于低电压。
使用万用表，可以测量接地电极和任意参考点（例如水管系统）之间的土壤电阻，但在现实世界中，接地故障电流可能会遇到更高的电阻。
使用直流万用表或绝缘测试仪进行的测量会因土壤中的电噪声而失真。接地电阻测试装置专门设计用于暴露不充分的测试条件。
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