什么是缺陷波和底波

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当工件中无缺陷时,荧光屏上只有始波与一次底波,当工件中有小缺陷存在时,荧光屏上除始波和底波之外还有缺陷波。

缺陷波位于始波和底波之间缺陷在工件中的深度与缺陷波在荧光屏上距始波的位置相对应,当工件的缺陷大于声束直径时,荧光屏上将只有始波与缺陷波。

根据底波来分析缺陷性质,是因为当工件内部存在缺陷时,超声波被缺陷反射使射达底面的声能减少,底波高度降低,甚至消失不同性质的缺陷,反射面不同,底波高度也不一样,因此在某些情况下可以利用底波情况来分析估计缺。

因缺陷波高度与缺陷面积成正比,而底波高度则与缺陷面积成反比,因此,当工件底面甚大于声束截面积且缺陷波未达饱和时,以底波高度为基准,用缺陷波高度与底波高度之比,表示缺陷相对大小的方法,称底波百分比法,简称FIB法。

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