深入解析SEM与TEM：微观世界里的精密探针
SEM，全称为扫描电镜，宛如显微镜的高端升级版，它以较低电压进行扫描，专注于表面细节的观察，犹如一位细腻的艺术家，捕捉样品的微观面貌。
TEM，即透射电镜，如同X光透视，揭示内部的秘密。它的电压远超SEM，能够穿透样品，揭示出隐藏在表面之下的微观结构，让你洞悉物体的内在世界。
然而，如果我们把TEM看作是全视角的观察者，那么STEM，扫描透射电镜，更像是TEM的一个分支。虽然功能上与TEM有所交叠，但STEM更像是TEM的精简版，专注于局部区域的高分辨率成像，有时被称为TEM的“特写镜头”。
扫描隧道显微镜（STM）则另辟蹊径，以针尖般的精确度探索微观世界，它的工作原理独特，通过微弱的电流感知原子级别的间距，为我们揭示了前所未有的微观世界细节。
虽然SEM、TEM和STM各有千秋，但共同的目标是揭示物质的微观世界。每一种工具都有其独特的应用场景，理解它们的区别，将帮助我们更好地理解这个世界。希望这些信息能为你的科研或学习之旅提供宝贵的指引。