薄膜干涉的本质是由薄膜两个表面反射回来的光经历不同的光程，存在光程差而造成的。
通常情况下，我们观察到的干涉条纹是在光源一侧，这是因为相互干涉的光线彼此之间只相差一次反射，而且一般只经历了1次反射（上表面或下表面），这样的光线强度衰减较小。较为容易观察到。
在非光源的一侧，也应该可以观察到由多次反射，不同反射面的光相互干涉形成的干涉条纹，但由于这些干涉条纹是由至少经历了两次反射而成（下表面反射或又被上表面反射向下），其光线强度衰减较大，较暗，所以我们一般在光源同侧观测干涉条纹。
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