测量长度的工具有直尺、平尺、平晶、水平仪、自准直仪等。
测量工具通常按用途分为通用测量工具、专类测量工具和专用测量工具3类。通用工具：可以测量多种类型工件的长度或角度的测量工具。
这类测量工具的品种规格最多，使用也最广泛，有量块、角度量块、多面棱体、正弦规、卡尺、千分尺、百分表、多齿分度台、比较仪、激光测长仪、工具显微镜、三坐标测量机等。
专类工具：用于测量某一类几何参数、形状和位置误差等的测量工具。它可分为：①直线度和平面度测量工具，常见的有直尺、平尺、平晶、水平仪、自准直仪等；②表面粗糙度测量工具，常见的有表面粗糙度样块、光切显微镜、干涉显微镜和表面粗糙度测量仪等。
③圆度和圆柱度测量工具，有圆度仪、圆柱度测量仪等；④齿轮测量工具，常见的有齿轮综合检查仪、渐开线测量仪、周节测量仪、导程仪等；⑤螺纹测量工具等。
专用工具：仅适用于测量某特定工件的尺寸、表面粗糙度、形状和位置误差等的测量工具。常见的有自动检验机、自动分选机、单尺寸和多尺寸检验装置等。
长度测量工具的设计规则：
设计测量工具，应尽可能遵守阿贝原则。它是德国的E.阿贝在19世纪60年代提出的。他认为，在长度测量中，被测长度应位于线纹尺刻度中心线的延长线上。
按此原则设计的测量工具，由导轨直线度误差引起的测量误差是二阶误差，一般可以忽略不计，这样就可以获得精确的测量结果。但要遵守阿贝原则，测量工具的长度就得大于被测长度的两倍以上。
这对测量工具的刚度、制造和使用都很不利，对测量范围大的测量工具，更是如此。这是不少测量工具的设计没有遵循阿贝原则的原因之一。
在测量工具设计中也可采用爱宾斯坦平行光学系统来补偿由于导轨误差引起的测量误差，或采用电子计算机自动修正由于导轨误差和被测长度定位不正确等引起的测量误差。除了阿贝原则外，设计时应考虑的还有测量链最短原则、基面统一原则等。
以上内容参考：百度百科—长度测量工具